中心研究成果速递:经颅直流电刺激对双相抑郁患者抑郁情绪的调节作用及神经机制研究
发布时间:2023-03-02 浏览次数:136
研究背景
世界人口中双相情感障碍患病率大约1%–3%,相对于躁狂发作,双相情感障碍患者更多的时候处于抑郁期,抑郁持续时间更长,对社会功能影响更大,自杀死亡风险也非常高。而对于双相抑郁的治疗是一项重大挑战,很少有治疗方法被证明有效,特别是关于抗抑郁药物的使用存在很大争议。在一些研究中,经颅直流电刺激(tDCS)已显示出治疗双相抑郁的有效性。然而,其作用机制尚不清楚。
研究过程
课题组通过随机、双盲、对照实验,共有50名双相抑郁患者完成tDCS干预治疗和评估,其中真刺激组25名,假刺激组25名,参与者在两周(14天)内每天接受一次tDCS刺激,采用国际10-20系统,阳极置于F3之上,回流电极置于FP1、FZ、C3、F7处,于基线和治疗第15天采用临床量表评估及rs-fMRI扫描,探索tDCS对双相抑郁患者临床症状的干预效应,并探索其潜在的神经机制。
研究结果
研究发现tDCS真刺激组较假刺激组抑郁情绪缓解更明显(图1)。经过tDCS真刺激后,情绪相关的脑区rs-FC网络有影响,真刺激组显示刺激后眶额皮层和额中回的ReHo值增加(图2),皮质下结构的ReHo值降低,皮质下结构包括海马、海马旁回、杏仁核、壳核和豆状核。此外,抑郁症状的改善与眶额皮质和额中回ReHo值的升高呈正相关,而与壳核和豆状核ReHo值的改变呈负相关(图3)。
图1 真、假tDCS刺激后抑郁情绪改善情况比较
图2 真刺激组显示刺激后眶额皮层和额中回的ReHo值增加
图3 抑郁症的改善与眶前额皮质和额中回ReHo值的升高呈正相关,而与壳核和豆状核ReHo值的改变呈负相关
研究结论
由此得出结论,经颅直流电刺激作为双相抑郁症的干预治疗方法,在改善抑郁情绪方面是有效和安全的,抑郁情绪的改善与情绪相关的大脑网络中皮层和皮层下脑区的神经活动(ReHo值)有关。将来还需要进一步的随访研究来确定tDCS在更大样本中的长期影响。
相关成果被Journal of Affective Disorders(IF=6.533)杂志接收,中心主任汪凯教授,中心副主任田仰华教授为通讯作者,中心成员张丽为第一作者。